Forskjell mellom versjoner av «Atomic Force Microscopy»
Fra Nanowiki
(Ny side: Et mikroskop med en liten tupp som bruker atomære krefter for å måle overflatestrukturer. Den har en del forskjellige modus, men de to mest generelle er vel konstant høyde og konstant ...) |
m (AFM flyttet til Atomic Force Microscopy: samme som den andre) |
(Ingen forskjell)
| |
Revisjonen fra 26. okt. 2008 kl. 17:02
Et mikroskop med en liten tupp som bruker atomære krefter for å måle overflatestrukturer.
Den har en del forskjellige modus, men de to mest generelle er vel konstant høyde og konstant spenning.
Man kan også få tuppen til å oscillere mens man scanner over prøven, eller bare slepe den bortover i kontakt med prøven, noen som kalles contact mode.
