Atomic Force Microscopy
Fra Nanowiki
Revisjon per 26. okt. 2008 kl. 17:01 av Mariusuv (diskusjon | bidrag) (Ny side: Et mikroskop med en liten tupp som bruker atomære krefter for å måle overflatestrukturer. Den har en del forskjellige modus, men de to mest generelle er vel konstant høyde og konstant ...)
Et mikroskop med en liten tupp som bruker atomære krefter for å måle overflatestrukturer.
Den har en del forskjellige modus, men de to mest generelle er vel konstant høyde og konstant spenning.
Man kan også få tuppen til å oscillere mens man scanner over prøven, eller bare slepe den bortover i kontakt med prøven, noen som kalles contact mode.
