Atomic Force Microscopy

Et mikroskop med en liten tupp som bruker atomære krefter for å måle overflatestrukturer.

Den har en del forskjellige modus, men de to mest generelle er vel konstant høyde og konstant spenning.

Man kan også få tuppen til å oscillere mens man scanner over prøven, eller bare slepe den bortover i kontakt med prøven, noen som kalles contact mode.