Scanning Tunneling Microscopy

Fra Nanowiki

Revisjon per 26. okt. 2008 kl. 17:54 av Mariusuv (diskusjon | bidrag) (Ny side: Dette mikroskopet er hakket hvassere enn AFM og bruker fordelen av at elektroner kan tunnelere fra prøven til spissen når spissen beveger seg veldig nærme.)

(diff) ← Eldre revisjon | Nåværende revisjon (diff) | Nyere revisjon → (diff)

Hopp til: navigasjon, søk

Dette mikroskopet er hakket hvassere enn AFM og bruker fordelen av at elektroner kan tunnelere fra prøven til spissen når spissen beveger seg veldig nærme.

Hentet fra «http://nanowiki.no/index.php?title=Scanning_Tunneling_Microscopy&oldid=412»