Brukerbidrag
(nyeste | eldste) Vis (20 nyere | 20 eldre) (20 | 50 | 100 | 250 | 500)
- 24. mai 2009 kl. 13:49 (diff | hist) . . (+394) . . Diffraction (→Bragg's law)
- 24. mai 2009 kl. 13:38 (diff | hist) . . (0) . . Diffraction (→Bragg's law)
- 24. mai 2009 kl. 13:38 (diff | hist) . . (0) . . Diffraction (→Bragg's law)
- 24. mai 2009 kl. 13:37 (diff | hist) . . (+325) . . Diffraction
- 24. mai 2009 kl. 13:29 (diff | hist) . . (+245) . . Diffraction
- 24. mai 2009 kl. 12:13 (diff | hist) . . (+217) . . Diffraction
- 24. mai 2009 kl. 12:07 (diff | hist) . . (+229) . . N Diffraction (Ny side: ==Diffraction== ==Background== Crystalline, polycrystalline and amorphous materials. The crystal lattice: unit cell and point lattices. The seven crystal systems. Space groups. Miller ind...)
- 24. mai 2009 kl. 12:02 (diff | hist) . . (+17) . . TFY4330 - Nanoverktøy (→Teknikker i tools)
- 24. mai 2009 kl. 11:53 (diff | hist) . . (+12) . . TFY4330 - Nanoverktøy (→Liste over forkortelser i Nanoverktøy)
- 24. mai 2009 kl. 11:52 (diff | hist) . . (+1) . . Scanning Tunneling Microscopy (→Principle)
- 24. mai 2009 kl. 11:52 (diff | hist) . . (+32) . . Scanning Tunneling Microscopy
- 24. mai 2009 kl. 11:51 (diff | hist) . . (+33) . . Atomic Force Microscopy
- 24. mai 2009 kl. 11:51 (diff | hist) . . (+17) . . N Kategori:Teknikker i tools (Ny side: Teknikker i tools) (siste)
- 24. mai 2009 kl. 11:50 (diff | hist) . . (+33) . . Field Ion Microscopy and Atom probe tomography (siste)
- 24. mai 2009 kl. 11:50 (diff | hist) . . (+33) . . Surface Probe Microscopy (→Lenker)
- 24. mai 2009 kl. 11:48 (diff | hist) . . (+663) . . N Field Ion Microscopy and Atom probe tomography (Ny side: ==Field-Ion microscopy== This method is used to view the arrangement of atoms at the surface of a sharp metal tip. In other words, the specimen is the tip of a needle. The metal tip is brou...)
- 24. mai 2009 kl. 11:39 (diff | hist) . . (-1) . . Surface Probe Microscopy (→Lenker)
- 24. mai 2009 kl. 11:37 (diff | hist) . . (+53) . . Surface Probe Microscopy (→Lenker)
- 24. mai 2009 kl. 11:25 (diff | hist) . . (+10) . . Atomic Force Microscopy (→Contact mode)
- 24. mai 2009 kl. 11:19 (diff | hist) . . (+105) . . Scanning Tunneling Microscopy (→Principe)
(nyeste | eldste) Vis (20 nyere | 20 eldre) (20 | 50 | 100 | 250 | 500)