Analytisk elektron mikroskopi

Fra NanoWiki

Gå til: navigasjon, søk

Bruker karakteristisk røntgen-stråling fra uelastiske kollisjoner til å finne den kjemiske sammensetningen i prøven. Kan brukes både kvalitativt (de kjemiske stoffene) og kvantitativt (sammenhengen mellom mikrostrukturen og de kjemiske stoffene). De karakteristiske røntgen-strålene kan velges ut fra det observerte spektrum enten pga energi eller bølgelengde. Det primære målet for disse metodene er å finne sammensetningen i bulk (selv om det bare er snakk om volumelelement på mikrometer-nivå), ikke på overflaten. Både SEM og TEM kan brukes med disse teknikkene.

Innhold

Energy dispersive Spectrometry - EDS

Wavelength dispersive Spectrometry - WDS

Kvantitativ analyse

Før analysen kan begynne må man rette for bakgrunnsstrålingen, "escape" topper og overlappende topper. Man må dermed bruke en iterativ metode for å finne konsentrasjonene. Man korrigerer for F-fluorescence, A-absorpsjon og Z-atomnummer i den rekkefølgen. Iterasjonprosessen er basert på: \frac{C_a}{C_b}=K \frac{I_a}{I_b}= der C er konsentrasjonen, I er intensiteten, K er en nøyaktighetsfaktor, A er den ukjente prøven og B er en standard prøve.


Nøyaktighet og Oppløsning

I TEM

Siden prøven er såpass tynn og den initielle energien såpass høy, vil røntgensignalet være mye svakere og veldig få røntgenstråler vil bli generert, men den romlige oppløsningen er mye bedre i TEM enn i SEM. I TEM er det viktig å passe på:

Å bruke en STEM er enda bedre, da den romlige oppløsningen er enda bedre, og man kan lage et element kart, samtidig som man lager bilder ved å bruke bright-field STEM, HAADF, som kan synkroniserers.

For å få bedre oppløsning, og bedre analyser av lav-energistråling kan man bruke EELS eller EFTEM

Personlige verktøy
Navnerom
Varianter
Handlinger
Navigasjon
Verktøy